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安捷伦 台式干式氦气检漏仪 HLD BD30
Agilent HLD BD30 台式干式检漏仪采用专用于检测氦气的质谱仪,以氦气作为示踪气体来定位和/或测量封闭设备或系统中的微小泄漏。HLD BD30 是一款精密又耐用的仪器,具有简便
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安捷伦 台式干式氦气检漏仪 HLD BD15
Agilent HLD BD15 台式干式检漏仪采用专用于检测氦气的质谱仪,以氦气作为示踪气体来定位和/或测量封闭设备或系统中的微小泄漏。HLD BD15 是一款精密又耐用的仪器,具有简便
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Serial Block-face SEM 3View图像三维重构
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 小鼠大脑
/Y: ±700μm Z: 600μmSerial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 细分数据
范围X/Y: ±700μm Z: 600μmSerial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 自动获取图像
厚度15~200nm (生物类样品 25~50nm)切割速度0.1~1.2mm / 秒刀片的切割距离1.2mm样品台驱动范围X/Y: ±700μm Z: 600μmSerial Block-face
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日本电子扫描电镜Serial Block-face SEM 3View 观察和分析磁性样品
点击查看下载日本电子扫描电镜Serial Block-face SEM 3View 观察和分析磁性样品相关资料,进一步了解产品。 JEOL热场发射扫描电镜的无漏磁物镜设计,使得观察和分析磁性
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Newport Ultraviolet (UV) Protective Face Shield
Ultraviolet (UV) Protective Face Shield1000 W and 1600 W light sources emit extremely high levels
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日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 能对样品进行自动切割
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